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CBT-C090A矽光芯片老化測試係統，采用1個老化（huà）機箱配置4個老化測試抽屜的設計，可同時（shí）對多個芯片（piàn）進行老化測試，減少（shǎo）測試成本，提高測試效率。結合客戶擴容需求，未來可通過增加機架支撐擴展至多（duō）層老化機箱，最大可容納40個可（kě）獨立加溫及加載電流的老化測試（shì）抽屜，支持更多（duō）器件同時獨立老化測試，提高產量，降低成本。
CBT-C090A老化測（cè）試係統加電方式獨特，根據客戶的芯（xīn）片尺寸和焊（hàn）盤信息，夾具及芯片加電可以采用探針（zhēn）加電設計，通（tōng）過PCB走線和連接器連接到電源。老（lǎo）化夾具采用陶瓷（cí）片控溫，每個夾具加電和控溫獨（dú）立可控。 CBT-C090A老化測試係（xì）統設計非常有彈性，可提供多路恒壓源（yuán），能夠支持nA級電流測試，電流檢（jiǎn）測值可以通過通信接口用（yòng）於在線監控。同時，該產品兼容性強，可（kě）滿足客（kè）戶定製需求。
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