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LHX-30602-TO 大功率(lǜ)激光器老(lǎo)化測試係統解決千(qiān)瓦級大功率(lǜ)半導體激光器芯片及(jí)激光器模塊需要使用(yòng)窄脈衝大電流測試和老化、芯片發熱嚴重等問題而創新開發推出一套通用性好、大功(gōng)率(lǜ)、循環水冷的老化測試係統。產品具(jù)有大電流窄脈衝恒流特性好、電流穩定、抗幹擾能力 強,並具有防過衝、防反衝、抗浪湧的穩壓及恒(héng)流的雙重保護電路等(děng)功能,為大功率半導體激(jī)光器芯片及激光器模塊(kuài)的老化測試提供了一個完整的解決方案。
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