半導體激光二級管可靠性老化測試係統

采用半導體激（jī）光器壽命和老化測試（shì）係統，可以減少（shǎo）測試成本，提高測試效率。係（xì）統包含40個（gè）可獨立（lì）加溫及加載電流的老化抽屜（tì），最多可（kě）支持1280個器件的測試。您（nín）可以同時進行多個獨立的（de）測試，提高產量，降低成本。此係統設（shè）計非常（cháng）彈性，允許您（nín）在（zài）一個係統（tǒng）測試多種不同的封裝形式（shì），隻需更換不同的老化抽屜即可。係統支持ACC和LIV測（cè）試，每一個通道的電流典型值為200mA，可最大定製到2000mA輸出。