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采用LHX-305-COC半導體激光器壽（shòu）命（mìng）老化係統，可（kě）以減少（shǎo）測試成本，提高測試效率。目前係統（tǒng）包含1個老化機箱及1個老化測試抽屜，可同時對32顆CW芯（xīn）片進行獨立加電老化。結（jié）合用戶擴容需求，目前結構上按照1個老化機箱及（jí）4個老化測試抽（chōu）屜設計（jì），未來（lái）可通過（guò）增加機架支撐擴展至多層老化機箱，最大可容納40個可獨立加溫及加（jiā）載電流的（de）老化測試抽屜，同（tóng）時支持1280個器件的老化。用戶可以同時進行多（duō）個（gè）獨立的老（lǎo）化，提高產量，降低成本。
LHX-305-COC的係統設計非常彈性（xìng），允許您（nín）在一個係統測試多種不（bú）同（tóng）的封裝形式，隻需更換不同的老（lǎo）化測試抽屜即可（kě）。係統支持ACC獨立老化，每一個通道（dào）的電流典型值為500mA。Reliability Sys軟件可以幫助您更加快捷的進行測試。您可以方便的配置多種器件類型和測試方（fāng）式，軟件自動（dòng）分（fèn）析、保（bǎo）存及導出測試結果，提供多（duō）種報錯（cuò）模式處理，不需要客戶進行任何額外的編程，即使掉電也不會影響（xiǎng）到數據的完（wán）整性（xìng）。也可以將數據導入到csv文件（jiàn）中，通過其它（tā）軟件分析。
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