CA-6000 芯片自動耦合測試係統

CA-6000 芯片自動耦合測試係統（tǒng）由亞（yà）微米（mǐ）級高精度移（yí）動平台、高性能隔（gé）振係統、多方位視覺檢測係統構（gòu）建而成。該係統（tǒng）采用自主研發（fā）上位機軟（ruǎn）件、融合（hé）圖像識別及人工智能算（suàn）法，實（shí）現自動對光（guāng）、自動壓接探針卡等操作，中間（jiān）過程（chéng）無需人（rén）工參與（yǔ），大大提高測試效率及精確度，進一（yī）步為客戶降本增效。