WIT-220 矽（guī）光晶圓測（cè）試（shì）探針台（tái）

WIT-220晶圓（yuán）光電測試探針係統綜合考慮穩定性、電噪聲處理、空間布局等設計要求，采用（yòng）精密運動控製係（xì）統，高性能隔振係統（tǒng），結合（hé）自主研發圖像軟件算法，實現高穩定性（xìng）小模斑芯片光性能和高（gāo）精度電性（xìng）能測試，能夠滿（mǎn）足（zú）高精度光測試指標以及（jí）pA/nA微信號測量應用要求，可提前在晶圓級別篩選不良芯片，防止流入後端工藝，節約整（zhěng）體封測成（chéng）本，提高（gāo）研發以及生產效率。