半導體激光二級管可靠性老化測試係統

采用半導體激光（guāng）器壽命和（hé）老化測試係統，可以減少測試成本，提高測試效（xiào）率。係統包含（hán）40個可獨立加溫及加載電流的老化（huà）抽屜，最多可支持1280個（gè）器件的測試。您可以同時進行多個獨立的測試，提高產量（liàng），降低成本。此係統設計非常彈性，允許您在一個係統測試多種不同的封裝（zhuāng）形式，隻需更換不同的（de）老化抽屜即可。係統支持ACC和（hé）LIV測試，每一個通道的電流典型（xíng）值為200mA，可（kě）最大定製到2000mA輸出。