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采用LHX-305-COC半導體激光器壽命老化(huà)係統,可以減少測試(shì)成本,提高測試效率。目前係統包含1個老化機箱及1個老化測試抽屜,可同時對32顆CW芯片進行獨立加電老化。結合(hé)用戶擴容需(xū)求,目前(qián)結(jié)構上按照1個老化機箱及4個老化測試抽(chōu)屜設計(jì),未來可通過增加機架支撐擴展至多(duō)層老化機箱,最大可容納40個可獨立加溫及加載電流的老化測試抽屜,同時(shí)支持1280個器(qì)件(jiàn)的老化。用戶可以同(tóng)時進行多個獨立的老化,提高產量,降低成本。
LHX-305-COC的係統設計非(fēi)常彈性,允許您在一個係統測試多種不同(tóng)的封裝形式,隻需更換不同的老化測試抽屜即可。係(xì)統支持ACC獨立老化,每一個通道的電流典型值為500mA。Reliability Sys軟件可以幫助您更加快捷的進行測試。您可以方便的配置多種器件類型(xíng)和測試方式,軟(ruǎn)件(jiàn)自動分析、保存及導出測試結果,提供多種報錯模式處理,不需(xū)要客戶進行(háng)任(rèn)何額外的編程,即使掉電也不(bú)會影(yǐng)響到數據的完整性(xìng)。也可以將數據導入到csv文件中,通過其它軟件分析。
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